Стандартноеприменениедляисследований：
- имияПоверхности;
- катализ;
- металлургия;
- Фотоэлектрическаяэнергетика;
- полупроводники;
- энергетика;
- КомбинаторныеисследованияМатериалов
Системаm-uhvвляетсяпревосходнойплатформойдляинтеграцииразличныханалитическихметодовUHV，Включая：
- Рентгеновскуюфотошлектроннушспектроскопию（XPS）;
- электроннуюОже——спектроскопию(AES);
- Спектроскопиюпотерьэнергии（els）;
- ультрафиолетовуюфотошлектроннуюспектроскопию（UPS）;
- сканирующую электронную микроскопию (sem);
- растровуюОже——микроскопию(SAM);
- Термопрограммированнуюдесорбцию（TPD）/Термопрограммированнушреакционнушспектроскопию（TPRS）/СпектроскопиюТермическойдесорбции（TDS）;
- отражательнуюдифракциюбыстрыхэлектронов(rhee);
- спектроскопию ионного рассеяния (iss);
- Масс-Спектрометриювторичныхионов（SIMS）;
- сканирующую туннельную микроскопию (stm);
- спектроскопиюпотерьэнергииэлектроноввысокогоразрешения(HREELS)
- ...имногоедругое